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发布时间:2022年10月
s-Laue是日本Pulstec公司近期发布的一款基于圆形全二维面探测器技术的新一代X射线单晶定向系统。该设备配备六轴样品台,具有功率小(30KV/1.5mA,因此辐射小)、操作简单、测试效率高(典型X射线曝光时间为15秒)等特点,可提供台式、便携式(即将发布,敬请期待)两种类型设备,既可满足实验室对小样品进行单晶定向的需求,也可以用于大型零件的现场晶体定向。
设备参数
X-ray source
W (Tungsten)
Voltage/Current
30kV/1.5mA
Cooling
Air cool
Irradiation spot
φ0.8mm
(Standard collimator)
Sample distance
27mm
Exposure time
15secs ※Typical
Sample stage
6 axis (Θ/Tan./Rad./X/Y/Z)
Power
AC100~240V,50/60Hz
Power consumption
150W max
Other
Door Interlock
简单易用
用户单位
新一代X射线单晶定向系统-s-Laue,s-Laue
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单晶体的最大特点是各向异性,这也意味着无论在制备、使用还是研究单晶体时,都必须知道其取向。例如,在Si半导体集成器件和大规模集成电路的制备中,就需表面为{1 1 1}或{1 0 0}面的基片。此外,在晶体缺陷和相变的研究中,也需要考虑单晶体的位向问题。 X射线衍射方法的出现,在无损、准确地解决单晶定向难题的基础上,还能提供晶体内部微观完整
日前,在日刊工业新闻社主办的“第53届机械工业设计奖”中,日本Pusltec公司的新一代X射线单晶定向系统s-Laue获得「日本商工会议所主席奖」。“机械工业设计奖”是以振兴和发展工业产品设计为目的,于1970年由株式会社日刊工业新闻社创立的,除了产品的功能和外观,市场性、社会性和安全性等方面也成为评审委员会的重要审核对象。评审委员会总结此次的参评产品,在现有成熟技术的基础上开发创新应用的产品占了多数。
单晶样品的晶体定向是单晶生长之后的重要工作内容之一。近期,日本Pulstec公司发布的新一代X射线单晶定向系统(型号:s-Laue),采用了新型的圆形全二维面探测器技术,使得设备的构造大大简化,具有操作简单、测试效率高(典型测试时间为60秒)、占地面积小等诸多技术特色。日本Pulstec公司可提供台式和便携式(待发布)两种类型的单晶定向系统,台式机可满足实验室对小样品进行单晶定向的需求,便携式设备也可以用于大型零件的现场晶体定向应用需求。 为便于
近期,日本Pulstec公司新发布了一款基于圆形全二维面探测器技术的新一代X射线单晶定向系统:s-Laue。该设备配备六轴样品台,具有功率小(30KV/1.5mA,因此辐射小)、操作简单、测试效率高(典型测试时间为60秒)等特点,可提供台式、便携式两种类型设备,即可满足实验室对小样品进行单晶定向的需求,也可以用于大型零件的现场晶体定向应用需求。制造商:日本Pulstec公司 型号:s-Laue应用领域:可广泛应用于超导、铁电、铁磁
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