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u-X360s X射线残余应力分析仪
产品规格
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性能与优点
全二维探测器.无需测角仪.无需液体冷却.侧测量更方便
X 射线单角度 《 通常为35° 》 一次入射即可完成测试,测量更快速.
二维探测器一次性采集 360° 全方位衍射数据并获取完整德拜环.
多达500个数据点进行残余应力数据拟合,结果更精确.
测试过程整机无需转动,测试从此不再受样品形状的限制.
体积轻巧(整机重 8.6 公斤),可电池供电,真正便携.户外工程原位检月侧变得轻松可行.
内置CCO摄像头和激光辅助定位系统,样品定位更轻松.
全自动软件测量残余应力、半峰宽、残余奥氏体等数据.
独有的德拜环数据可延伸分析材料织构、晶粒信息.
功率小(30kv, 1.5mA ) ,辐射小,使用更安全.
主机系统可装便携箱,可单手携带.
设备体积小巧,可现场检测大型构件;
无需测角仪, X 射线单次入射即可完成残余应力侧量.现场测量不再受空间限制;
支持使携电池供电.野外检测更加方便,
体积小巧, 可以伸进内径为170mm的管道进行检测
u-X360s X射线残余应力分析仪,u-X360s
u-X360s X射线残余应力分析仪信息由圆派科学仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于u-X360s X射线残余应力分析仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法
DIN EN 15305:2009-01 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法
NF EN 15305:2009 无损检测 X射线衍射残余应力分析试验方法
BS EN 15305:2008(2009) 无损检测 X 射线衍射残余应力分析的试验方法
UNE-EN 15305:2010 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
LST EN 15305-2008/AC-2009 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
LST EN 15305-2008 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
DS/EN 15305:2008 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
DS/EN 15305/AC:2009 无损检测 用 X 射线衍射分析残余应力的试验方法
SAE J784A-1971 通过 X 射线衍射测量残余应力
NF A09-185*NF EN 15305:2009 无损检测.用X射线衍射对残余应力分析的试验方法
DIN EN 15305:2009 无损检测.X射线衍射法对残余应力分析用试验方法
SAE J784-1971 通过 X 射线衍射测量残余应力
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 无损检验 使用X射线衍射法进行分析残余应力分析的试验方法
ASTM E915-96(2002) 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM E915-96 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
NF A09-285:1999 无损试验.通过X射线衍射进行残余应力分析的试验方法
ASTM E915-16 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ANSI/ASTM E915:1996 测量剩余应力用的X射线衍射仪验证方法
ASTM E915-10 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的标准试验方法
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