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发布时间:2024年01月
产品概述
卓立汉光开发的新一代全焦面影像校正光谱仪,采用全焦面非对称影像校正技术,极大程度的抑制多种光学像差,获得了理想的成像效果,从而提升了光谱仪的信号强度和分辨率水平。同时使光谱仪在宽波段范围内全焦面都拥有极小的像差,整个像面上都呈现出近乎完美的影像效果,大幅度拓展光谱分析的应用领域,可被用于空间分辨的实验,实现多通道实时探测,极大地提升光谱测试分析质量。
HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪功能及特点
支持双入口、双出口的结构配置,自动切换入口/出口,增强光谱测试应用灵活性;
全新设计的三光栅在轴旋转塔台方案,提升光栅的有效使用面积,在光谱仪使用范围内,极大地提升光栅通光效率的一致性;
光栅在轴旋转光栅利用率提高15%。(1200g/mm光栅,波长550nm位置)
内置光谱分辨率增强技术模块,进一步提升光谱仪分辨率及影像质量;
启用分辨率增强模块,分辨率*大可进一步提升约20%。
采用智能自动聚焦技术,多光栅切换使用时,使光谱仪处于分辨率*佳、影像*佳状态;
自动调焦获取*佳焦平面
消像差校正技术的运用,可获得更高的分辨率和对称性更好的峰形,提高了光子利用率,也可使波长信息更加**。
采用非对称结构的全焦面影像校正技术,使光谱仪在宽波段范围内全焦面呈现出近乎完美的影像效果,获得了更好的空间分辨率和光谱分辨率。
注:9芯光纤束/100um芯径,成像面高度3.8mm
规格参数表(@1200g/mm光栅条件下)
型号
HiperS-320i
焦距(mm)
320
相对孔径
F/4.4
扫描范围(nm)
0~1430
光谱分辨率(nm)-PMT
0.06
光谱分辨率(nm)-CCD(15um)
0.12
倒线色散(nm/mm)
2.29
波长准确度(nm)
±0.2
波长重复性(nm)
±0.025
*小步距(nm)
0.005
杂散光水平
5×10-5
焦平面尺寸
29 (w) × 14 (h)
光轴高度(mm)
156.3~171.3
光栅规格
68 × 68
光栅台
三光栅在轴旋转塔台
狭缝规格
缝宽0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;逢高2,4,14可更换
外形尺寸(mm)、重量(kg)
591 × 460 × 260 (L × W × H),30kg
通讯接口
标配USB2.0,可选RS-232
规格参数表@不同光栅
光栅(g/mm)
2400
1800
1200
600
300
150
0.91
1.39
4.87
9.97
20.13
机械扫描范围(nm)
0~715
0~953
0~1430
0~2860
0~4290
0~11440
扫描步距(nm)
0.0025
0.0035
0.01
0.02
0.04
狭缝光谱分辨率(nm)
0.03
0.24
0.48
0.048
0.073
0.256
0.523
1.06
CCD单次摄谱范围(nm@30mm CCD)
26.4
40.3
66.4
141.2
289.1
583.8
±0.1
±0.15
±0.4
±0.8
±1.6
0.015
0.025
0.05
0.1
0.4
注1:狭缝光谱分辨率,常规光谱仪在中心波长435.83nm,狭缝宽度10um;
注2:CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值,随着中心波长增加,摄谱范围变窄;
注3:随着中心波长的增大,倒线色散数值减小,随着中心波长减小,倒线色散数值增大;
注4:直入狭缝无法配置电动狭缝。
典型型号表
描述
HiperS-3204i
侧入口、CCD双出口
HiperS-3205i
侧入口、狭缝直出口
HiperS-3206i
侧入口、CCD直出口
HiperS-3207i
侧入口、狭缝双出口
HiperS-3208i
侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口
HiperS-3224i
双入口、CCD双出口
HiperS-3227i
双入口、狭缝双出口
HiperS-3228i
双入口、CCD直出口、狭缝侧出口
HiperS-3247i
侧入口、狭缝双出口、紫外镀膜
HiperS-3248i
侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、紫外镀膜
注1:本型号系列,为手动狭缝(电动狭缝需要额外选择)
注2:本型号系列,需要额外选配光栅,*多可配置3块光栅;
注3:本型号系列,不包含滤光片轮、快门,需要额外选择附件
光谱仪HiperS-3208i外形尺寸图:
HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪,HiperS-320i
HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪信息由北京卓立汉光仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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